日本电子维修技术 一个ST7200.7的120G硬盘老跑不过08怎么办?
新手刚开始自学ST不久,有说得不对的地方大家不要笑,并请指出。
08Ab,后面31之类的也全部Ab,结果P表一个也没能分配出来。
T>V7(这个是前面02做起,到4E后的3张缺陷表,从英文含义上来看并据我实测,从上往下分别是用户数据区P表,固件区P表,G表,网上流传很广的那些说法根本不对,广为流传的G-P和春华D版的G-P还会清了两张P表!)
User Slip Defect List
Num Entries = 0000 Checksum = 81FA
Total number of Defects = 0000
Reserved Tracks Defect List
Num Entries = 0007 Checksum = C4B1
F6EF.1.1EB
F6F0.1.1EB
F6F2.1.1EB
F6F9.1.1EA
F6FA.1.1EA
F6FC.1.1EA
F6FD.1.1EA
Alternate Defect List
Num Entries = 0000 Checksum = C404
T>H,,22(强制复位)
T>N8,,22(重做08)
T>(Begin Test 08
Not Power Cycling
SkpCylList deleted
Sys= 0F68E-0F70D 0280 SPTK on sys trks
<empty>
drive must be reformatted
Skipping MDW oversample s/n cylinders.
Pgm=08 Trk=0050C(0050C).0(0).000(000) Zn=0 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=005C6(005C6).1(1).000(000) Zn=0 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=01F1F(01F1F).1(1).000(000) Zn=1 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=03DD6(03DD6).2(2).000(000) Zn=2 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=07587(07587).2(2).000(000) Zn=4 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0C47B(0C47B).1(1).000(000) Zn=7 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0E93F(0E93F).0(0).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0000 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Age=08 Type=22 MxCyl=16358 MxHd=2 MxSct=44C BSz=0000 TCode=0000
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EA0E).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0004 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E(从EA0C开始很长一段就没有一个好磁道)
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EA2C).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0040 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EA40).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0068 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EA90).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0108 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=FFFFF(0EACC).F(1).0C3(000) Zn=0 Err=00 ErCt=0181 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E(出来FFFF不知怎么回事?)
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EAD0).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0188 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=FFFFF(0EAE6).F(1).0C3(000) Zn=0 Err=00 ErCt=01B5 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EAE8).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=01B8 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EAFD).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=01E2 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EB20).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0228 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EA0C(0EB4D).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=0282 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E
Pgm=08 Trk=0EB29(0EC79).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=02A0 Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E(终于有些好磁道了)
Pgm=08 Trk=0EB29(0EC90).1(1).000(000) Zn=8 Err=00 ErCt=02CE Hlth=0000 CHlth=0000 Ready LBA=0DFC7E9E(但后面又都是坏的了)
ASCII logging on
EP=0, TA=0, HiGain=0, OTRd=0, Early Rd=0, Splash=0, Reload=0, NPML=0, MRBias=0
Bst/Zap=0, SrvoThrsh=0, RunOut=0, MaxECC=0, ECC 2=0, ECC 1=0, ECC 0=0
Data=00, Write=01, ID=FF
Power Cycling
ASCII logging off
AbEnd Test 08(上次看过后没过几分钟就Ab掉了)
Begin Test 0A
后面再十来分钟,很快就4E结束了。
T>V7(再看3张缺陷表,还是没能再分配出什么来)
User Slip Defect List
Num Entries = 0000 Checksum = 81FA
Total number of Defects = 0000
Reserved Tracks Defect List
Num Entries = 0007 Checksum = C4B1
F6EF.1.1EB
F6F0.1.1EB
F6F2.1.1EB
F6F9.1.1EA
F6FA.1.1EA
F6FC.1.1EA
F6FD.1.1EA
Alternate Defect List
Num Entries = 0000 Checksum = C404
(我的一个160G的SF分了好几个步骤终于成功后用户数据区P表分配出来这么多:
User Slip Defect List
Num Entries = 2F96 Checksum = 42AB
Total number of Defects = 5707
)
从上面的显示结果来看,我估计08是扫描坏坏扇区特别多的磁道,然后在编排物理磁道和磁头与逻辑磁道和磁头时跳过这些坏的,从而达到屏蔽掉整个坏道的目的,08不过,则后面31之类的我想或是因为之后的物理CHS和逻辑CHS还没对应,或是因为扫出的坏扇区实在太多而中止,所以直接想从31做都没成功的。我想用DEMO版RCT砍了8和9段,但好象根本没反应,可能DEMO版不支持吧。从08的LOG看(很长,将放在下一楼),全是1头的,固件区坏扇区也全是1头的,SN是5JT0NZWQ,好象是支持跳砍头的吧,但因为前面全好,所以不到万不得已也不想砍,最好是能把Zone8和9的1头的SPT值设为0,后面再测如还有则再设1头的A等,但我不知道怎么做,因为我没有那些专业软件,指令也还不怎么懂。
评论
08的记录:
T>E08
;Log 08 - Health 4000 - HlthDtl 0000 - Cert Rev = .145 - Rom Rev = 3.06.100 - Time = 01:01:01 Log Type = 02
0312 Entries:
_____Head___0______ _____Head___1______ _____Head___2______
8B 0EA0B.000) 000( 01
8E 0EA0B.0C3) 000( 01
8B 0EA0C.000) 000( 01
8E 0EA0C.0C3) 000( 01
8B 0EA0E.000) 000( 01
8E 0EA0E.0C3) 000( 01
8B 0EA0F.000) 000( 01
8E 0EA0F.0C3) 000( 01
8B 0EA10.000) 000( 01
8E 0EA10.0C3) 000( 01
8B 0EA11.000) 000( 01
8E 0EA11.0C3) 000( 01
8B 0EA12.000) 000( 01
8E 0EA12.0C3) 000( 01
8B 0EA13.000) 000( 01
8E 0EA13.0C3) 000( 01
8B 0EA14.000) 000( 01
8E 0EA14.0C3) 000( 01
8B 0EA15.000) 000( 01
8E 0EA15.0C3) 000( 01
8B 0EA16.000) 000( 01
8E 0EA16.0C3) 000( 01
8B 0EA17.000) 000( 01
8E 0EA17.0C3) 000( 01
8B 0EA18.000) 000( 01
8E 0EA18.0C3) 000( 01
8B 0EA19.000) 000( 01
8E 0EA19.0C3) 000( 01
8B 0EA1A.000) 000( 01
8E 0EA1A.0C3) 000( 01
8B 0EA1B.000) 000( 01
8E 0EA1B.0C3) 000( 01
8B 0EA1C.000) 000( 01
8E 0EA1C.0C3) 000( 01
8B 0EA1D.000) 000( 01
8E 0EA1D.0C3) 000( 01
8B 0EA1E.000) 000( 01
8E 0EA1E.0C3) 000( 01
8B 0EA1F.000) 000( 01
8E 0EA1F.0C3) 000( 01
8B 0EA20.000) 000( 01
8E 0EA20.0C3) 000( 01
8B 0EA21.000) 000( 01
8E 0EA21.0C3) 000( 01
8B 0EA22.000) 000( 01
8E 0EA22.0C3) 000( 01
8B 0EA23.000) 000( 01
8E 0EA23.0C3) 000( 01
8B 0EA24.000) 000( 01
8E 0EA24.0C3) 000( 01
8B 0EA25.000) 000( 01
8E 0EA25.0C3) 000( 01
8B 0EA26.000) 000( 01
8E 0EA26.0C3) 000( 01
8B 0EA27.000) 000( 01
8E 0EA27.0C3) 000( 01
8B 0EA28.000) 000( 01
8E 0EA28.0C3) 000( 01
8B 0EA29.000) 000( 01
(太长了,中间省略)
8B 0ECAC.000) 000( 01
8E 0ECAC.0C3) 000( 01
8B 0ECAD.000) 000( 01
8E 0ECAD.0C3) 000( 01
8B 0ECAE.000) 000( 01
8E 0ECAE.0C3) 000( 01
8B 0ECAF.000) 000( 01
8E 0ECAF.0C3) 000( 01
8B 0ECB0.000) 000( 01
8E 0ECB0.0C3) 000( 01
8B 0ECB1.000) 000( 01
8F 0ECB1.0C3) 000( 01
8В 写入ID 标识出错
8Е 柱面隐藏溢出
8F 可隐藏柱面数已满
最后那个是8F,说明可隐藏柱面数已满了,好象是必须砍段或头才行。
评论
PC3K?HRK???
评论
这个盘应该就是1头损坏,砍段可行性几乎没有!只能考虑砍掉1头!
08之前会做磁头测试,如果你没有H,,22的话这个盘应该不会做08,
校准流程中没有需要大量写入坏道表的流程之前都会测试磁头健康情况,如果不满足就直接跳过,如果满足继续流程~
评论
但是1头测试完全是好的,而且Zone0-7一个坏道都没有,Zone8也是靠尾部才开始不对。从2做到8之前全部正常。不到万不利己,我不想砍啊。这个盘我是收来的,可能是运行中撞或摔过,估计那一片测试不对的地方表面全花了,SF之前测试是170,500,000-17?(忘了是4还是9了),000,000全是坏道和红绿块,擦这一片时硬盘经常死,必须重新加电,所以才开SF的,可能就是落在这一段上。
现在再测磁头还是好的。
T>T4
Begin Test 04
ASCII logging on
ASCII logging off
ASCII logging on
Kick Off Test
Testing head 0...
DAC value = FF12
Biasing with current 0025mA
DAC value = FE07
Biasing with current 0050mA
DAC value = FCFC
Biasing with current 0075mA
DAC value = FBF1
Biasing with current 0100mA
DAC value = FAE6
Biasing with current 0125mA
DAC value = F9DB
Biasing with current 0150mA
DAC value = F8D0
Biasing with current 0175mA
DAC value = F7C5
Biasing with current 0200mA
DAC value = FF12
Passed Max OD Bias Current = 0200mA. Limit = 0050mA
Head Mask 0000 - Switch to full int.
Spin Ready
Testing head 1...
DAC value = FF07
Biasing with current 0025mA
DAC value = FDFC
Biasing with current 0050mA
DAC value = FCF1
Biasing with current 0075mA
DAC value = FBE6
Biasing with current 0100mA
DAC value = FADB
Biasing with current 0125mA
DAC value = F9D0
Biasing with current 0150mA
DAC value = F8C5
Biasing with current 0175mA
DAC value = F7BA
Biasing with current 0200mA
DAC value = FF07
Passed Max OD Bias Current = 0200mA. Limit = 0050mA
Head Mask 0000 - Switch to full int.
Spin Ready
Testing head 2...
DAC value = FF32
Biasing with current 0025mA
DAC value = FE27
Biasing with current 0050mA
DAC value = FD1C
Biasing with current 0075mA
DAC value = FC11
Biasing with current 0100mA
DAC value = FB06
Biasing with current 0125mA
DAC value = F9FB
Biasing with current 0150mA
DAC value = F8F0
Biasing with current 0175mA
DAC value = F7E5
Biasing with current 0200mA
DAC value = FF32
Passed Max OD Bias Current = 0200mA. Limit = 0050mA
Head Mask 0000 - Switch to full int.
Spin Ready
ASCII logging off
OkEnd Test 04
春华D版的测试磁头竟然是2>x,真是晕死!
评论
T>/2
2>x
Zone 00: 00018 - 00BE8 1100 (044C) 683.439
Zone 01: 00BE9 - 027FE 1056 (0420) 666.63
Zone 02: 027FF - 04707 1026 (0402) 646.275
Zone 03: 04708 - 06CA3 990 (03DE) 622.431
Zone 04: 06CA4 - 08B66 953 (03B9) 602.353
Zone 05: 08B67 - 0A479 916 (0394) 580.392
Zone 06: 0A47A - 0C405 880 (0370) 545.882
Zone 07: 0C406 - 0D99A 836 (0344) 527.59
Zone 08: 0D99B - 0ECD9 806 (0326) 506.144
Zone 09: 0ECDA - 10337 770 (0302) 480.724
Zone 0A: 10338 - 11397 733 (02DD) 461.672
Zone 0B: 11398 - 12854 691 (02B3) 437.423
Zone 0C: 12855 - 13F38 660 (0294) 410.353
Zone 0D: 13F39 - 14AE7 623 (026F) 396.401
Zone 0E: 14AE8 - 155D6 605 (025D) 383.316
Zone 0F: 155D7 - 16358 572 (023C) 363.922
Sys= 0F68E-0F70D 0280 SPTK on sys trks
Total LBAs = 0DFD03F6
评论
T4 T5不是测试磁头的基本稳定性! 和坏道无关!
评论
我算了下LBA(不考虑P表):
0:9,982,500
1:22,777,920
2:24,454,710
3:28,595,160
4:22,514,625
5:17,639,412
6:21,320,640
7:13,856,700
8:11,913,486
到8为止共173,055,153,和SF前的坏的部位完全能对上。
评论
可能是1头那一片坏道实在是太多了,那我等下跳砍后改SN再试试。
你能不能给我个对应0、2头80G的SN?
评论
是我记错了,是否支持跳砍要看固件版本的,我的是3.06,不支持的。40G我可不想设,好的40G的我有几十个,只有等有工具可砍段了再说。
评论
修成80G算了.这个盘可以砍1头,我前面发过这样的帖,先把3.06的在F级用3.54的引导过来再砍1头.对应的SN就是3JV,5JV之内的,
评论
那也只能等我买了工具了,砍一段只少1/16,砍一头要少1/3.不知道能不能自己修改Zone的起始和终止位置,比如改成8是0D99B - 0EA00,9是0ED20 - 10337.
评论
磁道缺陷清掉后就很难再做好08了,所以每次做02前,要先备份P,G,T表,因为02会擦除缺陷表,大部分盘磁道缺陷是空的,所以能做好,少数盘有整道缺陷,就会很难做好,即使做好了也用不久,因为磁道缺陷大多是物理瑕疵,磁头读多了会不好 电路 电子 维修 求创维42c08RD电路图 评论 电视的图纸很少见 评论 电视的图纸很少见 评论 创维的图纸你要说 版号,不然无能为力 评论 板号5800-p42ALM-0050 168P-P42CLM-01 电路 电子 维修 我现在把定影部分拆出来了。想换下滚,因为卡纸。但是我发现灯管挡住了。拆不了。不会拆。论坛里的高手拆解过吗? 评论 认真看,认真瞧。果然有收
·日本中文新闻 唐田绘里香为新剧《极恶女王》剃光头 展现演员决心
·日本中文新闻 真子小室夫妇新居引发隐私担忧
·日本中文新闻 前AKB48成员柏木由纪与搞笑艺人交往曝光
·日本学校 {日本国际学校}梅田インターナショナルスクール
·日本学校 LINE:sm287 陳雨菲、20歳、台湾からの留学生、東京に来たばかり
·日本留学生活 出售平成22年走行48000km 代步小车
·日本华人网络交流 円相場 一時1ドル=140円台まで上昇?
·日本华人网络交流 问日本华人一个问题
·日本旅游代购 富山接机
·生活百科 英国转澳大利亚转换插头
·汽车 【求助】修车遇到困难怎么办?