日本电子维修技术 PC3000中文版说明书
PC3000中文版说明书 PC－3000的使用
您购买了一款绝妙的硬盘修复工具――PC3000。如果您以前常常修理硬盘，很可能你跳过了这一章，然而，如果您没有大量经验的话，作者建议你在开始之前读这一章――“IDE (ATA) HDD。技术说明，IDE（ATA）HDD修理的基础”
这一章包括一段对PC－3000简单的“指引”
修理硬盘，不要急于动用专门的技术设备。首先，任何硬盘都要用PC－3000AT通用测试器（包括在PC3000里）检查一遍。这能帮你找到缺陷并决定接下来的动作的结果。为了达到这个目的，把硬盘连接到测试板PC3000PRO上打开电源然后运行PC300AT.exe程序，电源打开后硬盘应该带动梭型马达向上旋转并开始（零轨道搜寻）。在这个过程中你将听到安放部件的典型声音。初始化过程结束后硬盘会发送读取信号，如果没有出现这种情况（梭型马达不转或不向上旋转或听到磁头撞击的声音）那么你就要使用Part2.2技术附录中介绍的方法。
硬盘读取检查后（DRDY=DSC=1, BUSY=0）,程序会讨善从硬盘描述区域读取数据。如果得去信号没有还到程序的话，相关的信息就会出现。这种情况下，就要使用“IDE (ATA) HDD技术说明，IDE (ATA) HDD修理基础”这一章中2.2.1这段介绍的方法。如果，尽管能受到硬盘读取信号，但不能读取硬盘描述数据（程序送出“硬盘参数没有决定”）或参数读取错误。这可能意味着不是读取路线有误就是磁盘固件损坏。（在相关的技术设备帮助下固件的数据可以恢复）然而，可能磁盘没有一个硬盘描写区域（这主要是老的KALOK/ XBEC 型号）或磁盘包含的参数不能用于硬盘操作（例如，Conner CP-3000）在这种情况下就要人工输入参数或从PC3000－AT的数据库中提取才能使测试过程顺利进行。用PC3000-AT测试后和对它的缺陷作出一各初步的决定后（方法在
“IDE (ATA) HDD。技术说明，IDE（ATA）HDD修理的基础”这一章的Part2.1）你就可以开始用技术设备来作出进一步的诊断或恢复硬盘固件的数据。工厂模式下硬盘恢复的详细说明和相关的方法在设备说明部分。
PC－3000开发团队祝愿你成功！
2 诊断和修复任何HDD的通用测试器
2.1 目的
测试软件PC3000－AT是PC3000的基本程序，它的功能有：
2. 在一般模式下诊断缺陷和修复IDE硬盘
3. 纠正硬盘用50H命令低水平格式化的恢复
4. 隐藏支持“作业”模式的HDD的坏扇区
5. 输入/输出类型的自动硬盘测试（综合测试）软件PC3000－AT和测试板PC3000同时工作。
2.2工作前的准备
1. 把PC3000PRO测试板电缆连接到硬盘的IDE接口上
2. 把电源电缆连接到硬盘上
3. 装载PC-SHELL和运行PC3000－AT
2.3 工作期间用PC3000AT输出信息
为了方便看到测试器显示在PC屏幕上的信息，以仪器前板的模式显示，包括以下部分：
显示—— 显示测试过程的有关信息，在显示的上部你可以看到“模式”线，这条线包括了正在测试的硬盘的类型和参数的信息；柱体号码(CYL), 磁头（HEAD）扇区（SEC）.
LBA模式——LBA模式下代替CYL，HEAD,SEC参数的是可用扇区的总数目，这个数目显示在模式上。在显示的下部是状态栏，包括状态的有关信息：可读/忙。当测试进行是以百分比的形式（已做）显示当前测试执行的持续时间，CYL,HEAD,SEC,侦测到的磁盘错误的数目（ERRS）
LBA模式下的只有一个当前扇区数目被显示来代替当前扇区的CYL,HEAD,SEC参数。
两行LED——显示硬盘的状态和错误（中央暂时器）的有关信息，它能监视硬盘的状态和指出功能失灵的原因，潜在的LED状态是蓝色（活动的）黄色，或红色，红色LED是错误的通知。状态中央暂存器显示HDD IDE的当前状态。
中央暂存器的值将在执行每各命令后升级.错误中央暂存器表示执行命令后HDD的状态,如果 “错误”字节在状态中央暂存器被设定的话. 小键盘-----对应键盘右边的数字键盘,按键改变的目的取决于测试器当前的状态.以下的键的目的保持不变:
Enter: 参数输入,各种测试的开始
Cancel: 取消当前测试的执行或正在设定的参数,能用ESC键取代
Exit: 取消当前测试的执行或正在设定的参数,退到 “模式选择”菜单
2.4 测试中的HDD的参数输入
测试开始时，当启动控制程序时，在CHS模式下测试器寻找测试硬盘的类型和参数，寻找过程后硬盘的类型和参数出现在模式线中，测试器的控制程序去到“模式选择”主菜单。按下“LBA”进入LBA模式，如果硬盘部支持LBA模式，“LBA”键将不会显示在屏幕上。
如果因为硬盘功能失灵而找不到硬盘的类型和参数，以下的信息就会出现：
按下任意键将会找不到硬盘参数，从测试器模式切换到：
硬盘类型选择
确认DRV
用户类型
Conner
Fujitsu
Maxtor
Quantum
用“Up” “Down” 和 “Enter” 等键你能实现：
选择确认DRV再次寻找HDD参数
选择用户类型手工输入HDD参数
从已有的参数库中选择硬盘类型和参数
“LBA模式“在输入数据库的参数和硬盘类型期间，可用的LBA扇区的数目将用Cyl, Head, Sec 参数的乘法运算来计算，找到硬盘参数后，控制程序前进到“模式选择”主菜单。
2.5 PC3000AT操作模式
2.5.1操作模式选择
操作模式选择里在“Up” “Down” 和 “Enter” 等键的帮助下从主菜单执行的，你可以通过按“Cancel”和 “Exit”键退出已选择的操作模式。
主菜单
模式选择
硬盘类型选择
硬盘测试
控制器测试
综合测试
缺陷重置
格式化
退出
模式选择——参数的查找或输入模式
硬盘类型选择——读/写通道、定位系统、梭形马达和控制芯片的测试和修复模式
硬盘测试——界面控制器、MPU、读/写通道、缓冲RAM的测试和修复模式
控制器测试——硬盘输入/ 输出控制的模式
综合测试——在这个模式下，测试器重置硬盘里支持作业模式的坏扇区
缺陷重置——在这个模式下，测试器执行支持50H命令的硬盘低于格式化的数据的正确恢复
退出——从程序退出到PC—SHELL或到DOS
按键“Smart”和“Passp”能查看硬盘的Smart参数和描区域，这些参数能用 “认证DRV”命令读出和用ATA－4专业版完全解密。
2.5.2查看硬盘的S.M.A.R.T参数
按下“Smart”键将在屏幕上显示以下Smart参数：
ID——控制器参数识别符
两数硬盘的识别符对应以下参数：
ID——控制器参数
1——读取错误率
4——开始/ 停止总计
5——重置扇区总计
10——向上旋转总计
11——硬盘刻度重试总计
199——最终DMA CRC错误率
200——多区域错误率
富士通硬盘的识别符对应以下参数：
ID——控制参数
1——读取错误率
2——通过量计算
3——向上旋转时间
4——梭形马达被激活的次数
5——可选择扇区的数量
7——寻找错误率
8——寻找时间计算
9——电源打开的时间
10——激活梭形马达重试的次数
12——电源关闭的时间
199——最终ATA CRC错误率
200——写入错误率
属性质——属性质范围是从1到253。首先属性有最大值，随后的消耗或预失失败的情况会导致属性值的可靠性降低。因此，高属性值意味着硬盘功能失控得可能性小，而低属性值则意味着硬盘的可靠性低和功能失控的可能性高最大的可靠属性值经常是100（IMB Quantum Fujitsu）或253（三星）。然而，也有例外。例如两数WDAC34000，WDAC33100 和WDAC31600 这几种型号的第一个可靠属性有最大值200，而其余的都是100。下限值－HDD开发者决定了每一个可靠属性的下限。如果最少属性值中的一个比对方的下值小，这意味着保存在硬盘里的数据有危险，可靠属性的构成和数目是由厂商单独为每一种HDD类型决定的。
“前失败/报告”Bit －除了下限值外，每个属性都由另外一个参数，该参数也表明了前坏硬盘的状态，硬盘有三种状态由前失败/报告来辨别：
“前失败/报告”Bit＝0 ，可靠属性值在相关的下限值之上该下限值显示了硬盘的高可靠性来源
“前失败/报告”Bit= 0 , 可靠属性值在相关的下限值之下,该下限值显示了硬盘的低可靠性来源
“前失败/报告”Bit=1, 可靠属性值在相关的下限值之下,指明前坏硬盘的状态.
结果——每个已控制参数的普遍结果，可能有以下值：
OK——属性值比相关的下限值高
！——属性值比相关的下限值低，“前失败/报告”Bit= 0
！！！——属性值比相关的下限值低，“前失败/报告”Bit= 1
如果硬盘不支持SMART诊断，按下“SMART”键引寻硬盘接纳ABRT错误和以下出现在屏幕上的信息：
这个硬盘不支持SMART。
2.5.3 硬盘测试
硬盘测试（HAD ,PCB）－测试和修复的模式：
读/ 写通道 定位系统 梭形马达和它的控制芯片
测试信息显示在状态上：
已准备好/忙――用状态中央暂存起的BSY bit：找出硬盘状态
CYL――当前（活动）柱体的值
HEAD――当前（活动）磁头的值
ERRS――找到的错误的数量
按键目的
按下右边的测试器微键盘的键将执行以下功能：
『Tran』――硬盘翻译器测试
『Step』――把磁头定位在减去－step当前柱体值的地方
『X->0』--硬盘 ，就是说，0柱体上磁头的位置
『A<->B』―― 位置在两个给出的柱体中
『RND』――随机位置在两个给出的柱体中
『ERAS』――写入代码0000到各个扇区
『View』――查看扇区的内容
『Wrt』――把已选择的代码写到当前的轨道
『HD』――磁头开关（选择）
『T』――测试磁盘旋转时间（毫秒）和速度（rev/秒）
给出柱体上的定位——在少数柱体上的定位能用『Step＋』和『Step－』
很方便的执行。当需要定位大量柱体时，就要按下『X->A』键－你要输入柱体A的数量，柱体A上磁头将被定位，输完后按下『Enter』，你就可以按『删除键』来删除输错的符号。
在两个给出柱体上的定位——你要先按下『A<->B』 。接入输入柱体A和B的数目，在A和B中间磁头将被定位，输完后硬盘开始定位磁头，按下『Cancel』或『exit』可以从屙屎模式退出，要定位两个随机柱体中的磁头你可以按下『RND』，执行为第一个和最后一个柱体输入数值类似于cyclic定位模式。
写入——按下『Wrt』会跳出模式选择菜单：
写入模式：
0000
FFFF
5555
AAAA
6DB6
9999
按下『Enter』后写入操作将会在硬盘当前轨道的各个扇区执行。
察看扇区内容——按下『View』后你必须输入开始柱体、磁头扇区的数量，扇区的转储会出现在屏幕少年上，『Up』和『Down』键可以察看以前和接下来的扇区，按下『Cancel』或『exit』回到主菜单。
清除——按下『Eras』以下信息会出现：
确定？
按『Enter』或『Cancel』
按下『Enter』硬盘会被重新recalibrated 写入无效值会被从0柱体和0磁头开始，退出清除过程可以按下『Cancel』或『exit』回到主菜单。
硬盘翻译器测试——按下『Tran』你要输入被测试区域的开始和结束柱体，测试在两个Pass执行：第一个Pass写入相关的数目到每个扇区；第二个Pass读出已写的数目并与计算出的数目对比。如果数目不匹配，就会发出错误报告。
测试磁盘的旋转时间和速度——按下『T』后，以下信息出现：
索引 xx , xx ms
旋转 yyyy RPM
这里xx, xx 时磁盘的旋转时间（每毫秒）yyyy是转速(rev/分)。八种IDE硬盘不能形成索引信号，他们不能测试时间和速度并且按下『T』后测试器保持空
“LBA模式”是当前的LBA扇区显示在状态栏中而不是CYL和HEAD参数，由『Ver』代替『HD』键来开关磁头－意味着当前的LBA扇区验证，所有的定位模式用于LBA扇区间的定位而不是柱体间。
2.5.4 操控者测试
控制测试PCB——测试和修复ATA界面控制器，mcu;写/读通道，RAM缓冲的测试模式。
菜单：
控制器测试，读取Cyclic状态注册，扇区缓冲测试，Cyclic写入扇区，扇区的Cyclic读取，IRQ测试，硬盘自诊，硬盘重启，退出
读取Cyclic状态注册——该测试是为了检查HOST—HDD微控制器总线，在硬盘不能执行输入的命令活错误解释命令。
或是如果HDD一直在“忙”——但BSY bit（状态栏中）一直是活动的，在测试一个短的读取循环被执行期间，在一个振荡器的帮助下进行失控检查，按下键盘打断该喜循环，测试开赛后，以下信息会出现测试器显示上：
进行状态注册读取循环
测试期间，状态注册和错误注册灯是活动的，按下测试器键盘上的注意键回到主菜单，
IRQ测试——测试是为检查打断要求通过引针的LDE连接器
扇区缓冲测试——测试是为了检查内部HDD数据总线，所有的总线硬盘被放在该总线上，一个ATA界面控制器和扇区缓冲区域的内部总线—缓冲RAM MC(限制通道)。测试程序执行命令“写入缓冲”和“读取缓冲”第一批代码FF, FE, FD,FB, 和 F7…….（分组0）和代码00，01，02，04，08，10…….（分组1），
被写入到扇区缓冲，随着读取扇区缓冲并与写入的数据比较。
评论
楼主，有俄文说明吗 电路 电子 维修 求创维42c08RD电路图 评论 电视的图纸很少见 评论 电视的图纸很少见 评论 创维的图纸你要说 版号，不然无能为力 评论 板号5800-p42ALM-0050 168P-P42CLM-01 电路 电子 维修 我现在把定影部分拆出来了。想换下滚，因为卡纸。但是我发现灯管挡住了。拆不了。不会拆。论坛里的高手拆解过吗？ 评论 认真看，认真瞧。果然有收
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